XRF樣品膜(X熒光光譜儀測試膜)
X射線熒光光譜分析儀(XRF)用測試膜樣品膜
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XRF測試(X射線熒光測試)是一種廣泛應(yīng)用于元素分析的 非破壞性測試技術(shù)。
它基于X射線與物質(zhì)相互作用的原理,通過測量物質(zhì)中熒光輻射的能量和 強度來確定樣品中的元素組成和含量。
常用厚度有:2.5~6μm
常用寬幅75mm,30m/卷,一般使用1英寸卷芯;其他規(guī)格可按需定制分切
性能特點:
1、高柔韌性和耐用性:方便實用和存儲,能承受多次使用,不易損壞;
2、抗化學(xué)腐蝕:不溶于有機溶劑,不會污染待測樣品;
3、雜質(zhì)含量低:確保檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠;
4、適用范圍廣:適用于各種類型的 X射線熒光光譜儀(XRF),如合金儀器、貴金屬分析儀、ROSH檢測儀、手持機、測厚儀等。
應(yīng)用領(lǐng)域:
1、用于金屬和合金的化學(xué)成分分析;
2、用于快速分析礦石樣品中各種元素的含量,幫助礦產(chǎn)資源勘探和評估。同時,也用于礦物學(xué)研究和地質(zhì)勘探中的礦物鑒定;
3、用于環(huán)境監(jiān)測中,可快速確定樣品中存在的有害元素或污染物,提供環(huán)境質(zhì)量評估和監(jiān)測數(shù)據(jù);
4、用于藥品和食品中有害元素的檢測,確保藥品和食品生產(chǎn)安全;
5、還可應(yīng)用于建筑材料分析、考古學(xué)、煤炭和能源領(lǐng)域等。